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电子学标准
GB/T 42836-2023 微波半导体集成电路 混频器
GB/T 42836-2023
GB/T 42835-2023 半导体集成电路 片上系统(SoC)
GB/T 42835-2023
GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
GB/T 42848-2023
GB/T 27700.1-2023 有质量评定的声表面波滤波器 第1部分 :总规范
GB/T 27700.1-2023
GB/T 42897-2023 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法
GB/T 42897-2023
GB/T 42744-2023 微波电路 电调衰减器测试方法
GB/T 42744-2023
GB/T 42896-2023 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳尺度结构冲击试验方法
GB/T 42896-2023
GB/T 42895-2023 微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS微结构弯曲强度试验方法
GB/T 42895-2023
GB/T 6346.14-2023 电子设备用固定电容器 第14部分:分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器
GB/T 6346.14-2023
GB/T 12274.401-2023 有质量评定的石英晶体振荡器 第4-1部分:空白详细规范 能力批准
GB/T 12274.401-2023
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