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GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 42902-2023标准基本信息

标准名称:碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法

标准号:GB/T 42902-2023

发布日期:2023-08-06

实施日期:2024-03-01

标准类别:方法

中国标准分类号:H21

国际标准分类号:77 冶金,77.040 金属材料试验

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

主要起草单位 安徽长飞先进半导体有限公司、广东天域半导体股份有限公司、安徽芯乐半导体有限公司、南京国盛电子有限公司、浙江芯科半导体有限公司、河北普兴电子科技股份有限公司、中国科学院半导体研究所。

主要起草人 钮应喜 、袁松 、张会娟 、刘敏 、仇光寅 、李京波 、彭铁坤 、袁肇耿 、杨龙 、闫果果 。

GB/T 42902-2023预览图:

GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试  激光散射法

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