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GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 42975-2023标准基本信息

标准名称:半导体集成电路 驱动器测试方法

标准号:GB/T 42975-2023

发布日期:2023-09-07

实施日期:2024-01-01

标准类别:方法

中国标准分类号:L56

国际标准分类号:31 电子学,31.200 集成电路、微电子学

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体集成电路 驱动器测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司。

主要起草人 刘芳 、周俊 、杨晓强 、纵雷 、刘凡 、霍玉柱 、林瑜攀 、陆坚 、梁希 、王会影 。

GB/T 42975-2023预览图:

GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

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