当前位置:首页 > 国家标准 > 

GB/T 36477-2018

GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 36477-2018标准基本信息

标准名称:半导体集成电路 快闪存储器测试方法

标准号:GB/T 36477-2018

发布日期:2018-06-07

实施日期:2019-01-01

中国标准分类:L56

国际标准分类:31 电子学,31.200 集成电路、微电子学

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《半导体集成电路 快闪存储器测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

中国电子技术标准化研究院、中芯国际集成电路制造(上海)有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、复旦大学、中兴通讯股份有限公司。

GB/T 36477-2018预览图:

GB/T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法

声明:资源收集自用户分享或网络,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误