标准名称：纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命
标准号：GB/Z 37664.3-2025
发布日期：2025-12-03
标准类别：方法
中国标准分类号：G 30
国际标准分类号：07 数学、自然科学
归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门：中国科学院
国家标准《纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。
本文件描述了使用时间相关单光子计数法（TCSPC)对半导体量子点（QDs)荧光寿命进行测量的方法，包括实验步骤、数据处理和测量示例。TCSPC适用于测量从皮秒到纳秒范围的荧光寿命。本文件适用于QDs的稳定分散液，不适用于固体样品。
