SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

SJ/T 11399-2009标准基本信息

标准名称：半导体发光二极管芯片测试方法

标准号：SJ/T 11399-2009

发布日期：2009-11-17

实施日期：2010-01-01

制修订：制定

中国标准分类：L45

技术归口：中国电子技术标准化研究所

批准发布部门：工业和信息化部

行业分类：无

标准类别：无

起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

起草人：鲍超、胡爱华 等