当前位置:首页 > 行业标准 > SJ/T 2215-2015

SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法

SJ/T 2215-2015标准基本信息

标准名称:半导体光电耦合器测试方法

标准号:SJ/T 2215-2015

发布日期:2015-04-30

实施日期:2015-10-01

制修订:修订

代替标准:SJ/T 2215.1~ 2215.14-1982

中国标准分类:L50

国际标准分类:31.080.1

技术归口:工业和信息化部电子工业标准化研究院

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:无

标准类别:方法标准

起草单位:中电子科技集团公第四十四研究所

起草人:马思华、欧熠、陈春霞 等

声明:本站为网络服务提供者及网络索引服务平台资源索引自网络/用户分享,如有版权问题,请联系站方删除。

不能下载?报告错误