YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

YS/T 1160-2016标准基本信息

标准名称：工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

标准号：YS/T 1160-2016

发布日期：2016-07-11

实施日期：2017-01-01

制修订：制定

中国标准分类：H12

国际标准分类：29.045

批准发布部门：工业和信息化部

行业分类：无

标准类别：方法标准

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