当前位置：首页 > 行业标准 > SJ 21475-2018

SJ 21475-2018 磷化铟单晶片几何参数测试方法

帮助收藏举报上传文档下载预览图

SJ 21475-2018标准基本信息

标准名称：磷化铟单晶片几何参数测试方法

标准号：SJ 21475-2018

英文名称：Test methods for geometric parameters of InP wafers

发布部门：科技工业局

发布日期：2018-12-29

实施日期：2019-03-01

声明：本站为网络服务提供者及网络索引服务平台资源索引自网络/用户分享，如有版权问题，请联系站方删除。

不能下载？报告错误

翻页：SJ 20953A-2018 双工跳频电台通用规范

相关内容

免费下载

用户名称：僧

注册时间：2024-04-20

认证方式：手机认证

资源帮助上传文档

热门标签