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YS/T 1703-2024 晶片包装片盒表面颗粒的测试 液体颗粒计数法

标准名称:晶片包装片盒表面颗粒的测试 液体颗粒计数法

标准号:YS/T 1703-2024

发布日期:2024-10-24

实施日期:2025-05-01

制修订:制定

中国标准分类号:H17

国际标准分类号:77.04

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:制造业

标准类别:方法标准

适用范围:本文件规定了液体颗粒计数仪测试晶片包装片盒表面颗粒的方法。本文件适用于直径100mm、125mm、150mm、200mm、300mm的硅抛光片、硅外延片、SOI片及其他材质的半导体晶片包装片盒颗粒洁净度的测试。

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