该标准是IEC61967系列标准的一部分，主要规定了集成电路（IC）电磁发射测量的方法和要求。具体适用于频率范围通常为150kHz至1GHz的传导发射测量，用于评估集成电路在正常工作状态下通过其引脚产生的电磁干扰。该标准为集成电路设计、测试和应用提供了统一的测量方法，确保测试结果的可比性和重复性。适用于各类集成电路的电磁兼容性（EMC）测试和评估。
标准号：IEC 61967-4:2021 RLV
发布日期：2021-03-16
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method
集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1欧姆/150欧姆直接耦合法
IEC 61967-4:2021 RLV