标准号：IEC 62899-503-1:2020
发布日期：2020-05-27
Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
印刷电子 - 第503-1部分：质量评估 - 印刷薄膜晶体管位移电流测量的测试方法
IEC62899-503-1:2020的适用范围主要涉及印刷电子产品的测试方法。该标准具体规定了印刷电子产品的机械耐久性测试方法，特别是针对弯曲和折叠条件下的性能评估。它适用于评估印刷电子器件在反复弯曲或折叠过程中的可靠性和耐久性，为相关产品的设计、生产和质量控制提供测试依据。
IEC 62899-503-1:2020