标准号：IEC TS 62607-3-3:2020
发布日期：2020-09-24
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)
纳米制造 关键控制特性 第3-3部分：发光纳米材料 半导体量子点荧光寿命的测定 采用时间相关单光子计数法
IECTS62607-3-3:2020的适用范围主要涉及纳米制造领域的质量控制。该技术规范针对纳米材料的关键控制特性，特别是纳米结构材料的电性能测量方法。它规定了用于评估纳米结构材料电性能的标准化测试程序，适用于纳米制造过程中相关材料和产品的质量控制与性能评估。该标准为纳米技术领域的制造商、研究机构和检测实验室提供了统一的测试方法指南。
IEC TS 62607-3-3:2020