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IEC 61967-8:2023 集成电路 - 电磁发射测量 - 第8部分:辐射发射测量 - IC带状线法

标准号:IEC 61967-8:2023

发布日期:2023-05-03

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method

集成电路 - 电磁发射测量 - 第8部分:辐射发射测量 - IC带状线法

IEC61967-8:2023的适用范围是集成电路(IC)电磁发射测量,具体针对辐射发射的测量方法,使用带状线(stripline)法。该标准规定了使用带状线测试装置来评估IC在特定频率范围内的电磁辐射发射,适用于频率范围通常从150kHz到1GHz(或更高,取决于测试设置)。它主要用于集成电路设计、测试和认证阶段,帮助确保IC的电磁兼容性(EMC)符合相关要求。

IEC 61967-8:2023

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