IEC 62779-3:2016 半导体器件 - 人体通信半导体接口 - 第3部分：功能类型及其工作条件

标准号：IEC 62779-3:2016

发布日期：2016-04-26

Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 3: Functional type and its operational conditions

半导体器件 - 人体通信半导体接口 - 第3部分：功能类型及其工作条件

IEC62779-3:2016的适用范围为：本部分规定了用于评估半导体器件在特定环境条件下（如高温、高湿等）的可靠性测试方法，主要适用于分立半导体器件和集成电路的耐久性及寿命验证。