标准号：IEC 63003:2015
发布日期：2015-12-14
Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505™
用于高密度单层电子测试需求的通用测试接口引脚映射配置标准，采用IEEE Std 1505™标准。
IEC63003:2015的适用范围是：该标准规定了用于测量和评估电子设备中产生的电磁场强度的测试方法，主要适用于频率范围在9kHz至400GHz之间的设备，旨在确保设备在电磁兼容性方面的性能符合相关要求。
IEC 63003:2015 用于高密度单层电子测试需求的通用测试接口引脚映射配置标准，采用IEEE Std 1505™标准。