IEC 61967-6:2002 集成电路 - 电磁发射测量，150 kHz至1 GHz - 第6部分：传导发射测量 - 磁探头法

标准号：IEC 61967-6:2002

发布日期：2002-06-25

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

集成电路 - 电磁发射测量，150 kHz至1 GHz - 第6部分：传导发射测量 - 磁探头法

IEC61967-6:2002的适用范围是：该标准规定了集成电路（IC）电磁发射测量方法中的传导发射测量方法，具体涉及使用电流探头在1Ω至1GHz频率范围内测量IC引脚的射频（RF）电流。它适用于评估集成电路在正常工作状态下通过其引脚产生的传导电磁干扰（EMI）。