IEC 60444-2:1980 采用π网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第二部分：石英晶体元件动态电容测量的相位偏移法

标准号：IEC 60444-2:1980

发布日期：1980-01-01

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units

采用π网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第二部分：石英晶体元件动态电容测量的相位偏移法

IEC60444-2:1980的适用范围是：该标准规定了采用π型网络零相位法测量石英晶体元件等效参数的基本方法，主要适用于频率在1MHz至125MHz范围内的石英晶体谐振器。