T/CIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序

T/CIE 116-2021标准基本信息

标准名称：电子元器件故障树分析方法与程序

标准编号：T/CIE 116—2021

国际标准分类号：31.080.01半导体器分立件综合

国民经济分类：C397 电子器件制造

发布日期：2021年11月22日

实施日期：2022年02月01日

起草人：何小琦，陈媛，恩云飞，来萍，宋芳芳，王蕴辉，支越，路国光，任艳

起草单位：工业和信息化部电子第五研究所