标准名称：颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法
标准编号：T/CSP 13—2024
英文标题：Particulate technology—Analysis of sub-micron and nanometerheterostructure—Transmission electron microscopy
国际标准分类号：17.020
国民经济分类：M731 自然科学研究和试验发展
发布日期：2024年11月18日
实施日期：2024年11月25日
起草人：常怀秋、李婷、白露、杜志伟、齐笑迎、贾荣光、朱晓阳、韩小磊、车聪、高 原、郎爽、毛璐、周素红。
起草单位：国家纳米科学中心、国标（北京）检验认证有限公司、国合通用测试评价认证股 份公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）、中国颗粒学会、北京粉体 技术协会。
适用范围：本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。 本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。
