标准名称：珍珠层厚度测定 X射线透视法
标准编号：T/CAQI 522—2026
国际标准分类号：39精密机械、珠宝 39.060珠宝
国民经济分类：M 科学研究和技术服务业 M74 专业技术服务业 M745 质检技术服务 M7452 检测服务
发布日期：2026-05-27
实施日期：2026-06-27
起草人：廖任庆、刘智华、王玲、郭杰、金晓婷、买潇、王惊涛、郑晨、王春杰、崔建军、张宏忠、郑秋菊、魏进国、周松、张艽、马嫣、李坤、朱红伟
起草单位：深圳城市职业学院(深圳技师学院)、华津国检(深圳)金银珠宝检验中心有限公司、中艺（香港）有限公司、扬州市玉器产品质量监督检验中心、云南国土资源职业学院、深圳中质珠宝首饰检测有限公司、北京高德珠宝鉴定研究所有限公司、天津市产品质量监督检测技术研究院、深圳市质量检验协会、广州职业技术大学、山东省计量科学研究院
适用范围：本文件适用于在实验室中采用X射线透视法测定正圆形、圆形及近圆形珍珠的珍珠层厚度。其他形状珍珠的测定参照执行。
本文件规定了采用X射线透视法测定珍珠层厚度的原理、样品、检测设备及分析软件、检测步骤、结果计算与表示、检测报告及检测结果的局限性与干扰因素。
