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GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法

下载格式:pdf标准分类:国家标准

GB/T 14142-2017标准基本信息

标准名称:硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法

标准号:GB/T 14142-2017

发布日期:2017-09-29

实施日期:2018-04-01

全部代替标准:GB/T 14142-1993

中国标准分类:H25

国际标准分类:77 冶金,77.040 金属材料试验

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

南京国盛电子有研公司、有研半导体材料有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司。

GB/T 14142-2017预览图:

GB/T 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法

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