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GB/Z 119-2026 晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测

标准名称:晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测

标准号:GB/Z 119-2026

发布日期:2026-01-04

标准类别:方法

中国标准分类号:K83

国际标准分类号:27 能源和热传导工程,27.160 太阳能工程

归口单位:全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会

执行单位:全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测》由TC90(全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

本文件描述了晶体硅光伏组件光热诱导衰减(LETID)的试验方法,包括仪器装置、样品准备、测试步骤、结果处理和报告内容等。本文件适用于晶体硅光伏组件,用于揭示样品对LETID衰减机制的敏感性,但不能精确测量其在户外实际的衰减情况。户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术。

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