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YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

YS/T 679-2008标准基本信息

标准名称:非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

标准号:YS/T 679-2008

发布日期:2008-03-12

实施日期:2008-09-01

制修订:制定

中国标准分类:H80

技术归口:全国有色金属标准化技术委员会

批准发布部门:国家发展和改革委员会

行业分类:无

标准类别:无

起草单位:有研半导体材料股份有限公司

起草人:孙燕、卢立延 等

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