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SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法

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SJ 21347-2018标准基本信息

标准名称：低温器件与组件极低温度筛选试验方法

标准号：SJ 21347-2018

英文名称：Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly

发布部门：科技工业局

发布日期：2018-01-18

实施日期：2018-05-01

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