标准名称：硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法
标准号：YS/T 1768-2025
发布日期：2025-04-10
实施日期：2025-11-01
制修订：制定
中国标准分类号：H17
国际标准分类号：77.04
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：制造业
标准类别：方法标准
适用范围：本文件描述了硅多晶生产用石墨制品表面中钠、镁、铝、钾、钙、铬、铁、镍、铜、锌、砷、铅、锰、硼、磷等元素含量的电感耦合等离子体光谱测定方法。本文件适用于硅多晶生产用石墨制品中表面杂质元素含量的测定。
