本书由法国 TIMA 实验室的 Raoul Velazco、 法国波尔多第一大学的 Pascal Fouillat 和巴西南里奥格兰德联邦大学的 Ricardo Reis 共同编著， 从 环境、 效应、 测试、 评价、 加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统 中的辐射效应， 主要内容包括空间辐射环境、 微电子器件中的辐射效应、 电子器件的在轨飞行异常、 多……
(图) 《嵌入式系统中的辐射效应 国际电气工程先进技术译丛》（法）拉乌尔·委拉兹克 2017版
《嵌入式系统中的辐射效应 国际电气工程先进技术译丛》（法）拉乌尔·委拉兹克 2017版