IEC 62132-1:2015 集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第1部分：通用条件和定义

标准号：IEC 62132-1:2015

发布日期：2015-10-29

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions

集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第1部分：通用条件和定义

IEC62132-1:2015的适用范围是规定集成电路（IC）电磁兼容性（EMC）测量的一般条件和定义，为后续各部分（如传导发射、辐射发射、传导抗扰度、辐射抗扰度等）的详细测试方法提供基础框架。该标准适用于评估集成电路在电磁环境中的性能，确保其在预期应用中的可靠性和兼容性。