IEC 62779-1:2016 半导体器件 - 人体通信用半导体接口 - 第1部分：通用要求

标准号：IEC 62779-1:2016

发布日期：2016-02-18

Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 1: General requirements

半导体器件 - 人体通信用半导体接口 - 第1部分：通用要求

IEC62779-1:2016的适用范围为：本标准规定了半导体器件在特定环境条件下（如高温、高湿等）的可靠性测试方法，主要适用于评估分立半导体器件（如二极管、晶体管等）的长期可靠性和耐久性。