本研究旨在探讨光照恢复处理对采用不同封装类型的C双面光伏组件电位诱发衰减（PID）的影响。通过系统对比不同封装材料在光照条件下的性能恢复效果，分析了光照对组件表面电荷分布、漏电流及功率衰减的改善机制。实验选取了典型封装结构，测量了PID现象前后及光照处理后的电学参数变化，并评估了光照处理对组件长期稳定性的潜在作用。结果表明，光照恢复处理能显著缓解C双面光伏组件的PID效应，但其效果因封装材料而异，为优化双面组件设计及运维策略提供了参考。
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光照恢复处理对采用不同封装 C双面光伏组件PID的影响