T/IAWBS 010-2019标准基本信息
标准名称：碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
标准状态：现行
标准编号：T/IAWBS 010—2019
中文标题：碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
英文标题：Detection method for measuring the surface Detection method for measuring the surface quality and micropipe densityof polished monocrystalline silicon carbide wafers-Laser Scattering Method
国际标准分类号：29.045
国民经济分类：C398 电子元件及电子专用材料制造
发布日期：2019年12月27日
实施日期：2019年12月31日
起草人：佘宗静、赵岩、杜莹莹、曹艳芳、刘丹、陆敏、郑红军、林健、王文军、林雪如、刘祎晨、陈鹏、韩超、张平、钮应喜、陈志霞、张瑾、陈彤。
起草单位：中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、北京天科合达半导体股份有限公司、东莞天域半导体科技有限公司、江苏天科合达半导体有限公司、新疆天科合达蓝光半导体有限公司、中国科学院物理研究所、北京三平泰克科技有限责任公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、全球能源互联网研究院有限公司、瀚天天成电子科技（厦门）有限公司、中国科学院电工研究所、泰科天润半导体科技（北京）有限公司。
范围：本标准规定了4H及6H碳化硅单晶抛光片的表面质量和微管密度的测试方法-激光散射测试法。本标准适应于4H及6H碳化硅单晶抛光后制备的碳化硅单晶抛光片。
是否包含专利信息：否