T/IAWBS 015-2021标准基本信息
标准名称：氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
标准状态：现行
标准编号：T/IAWBS 015—2021
中文标题：氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
英文标题：Test method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of Ga2O3 single crystal substrate
国际标准分类号：29.045
国民经济分类：C398 电子元件及电子专用材料制造
发布日期：2021年09月15日
实施日期：2021年09月22日
起草人：李培刚、郭道友、吴忠亮、陈旭、唐为华。
起草单位：中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟，北京邮电大学，北京镓族科技有限公司
范围：本文件规定了利用双晶X射线衍射仪测试氧化镓单晶片摇摆曲线及其半高宽的方法。本文件适用于熔体法及其他方法生长的和定向切割晶锭制备的氧化镓单晶片，对前述单晶片进行化学或机械抛光后的样品同样适用于此方法。本文件适用于β相氧化镓单晶。
是否包含专利信息：否