标准名称：脑机接口系统性能测试与评估方法
标准编号：T/GXDSL 010—2025
英文标题：Performance Testing and Evaluation Methods for Brain - Computer Interface Systems
国际标准分类号：17.220.20电和磁量值的测量
国民经济分类：M745 质检技术服务
发布日期：2025年03月18日
实施日期：2025年03月18日
起草人：韦新，庄文斌，陈世卿，黄立，倪常茂，黄涌，孙锐，方鹏，张慧卿，陈军，王建，张志敏，李征骥，李三雁，王博知，韦博鲲，段玉聪，宋永端，王朴，郭海燕，张妍，李锐，王红，魏乃礼，杨猛，赵闪光，郑小伟，万峰，曾玲芸，肖湛，张萍，乔鸿飞，李学平，龚才春，赵国帅，周建伟，李高健，余瑾。
起草单位：广西研科院高新技术有限公司，成都锦城学院，广西产学研科学研究院，广西蓝脑科技有限公司，山东大学(乐陵)人工智能研究院，武汉衷华脑机融合科技发展有限公司，西安交通大学，空军军医大学，清华大学零一学院，西安蓝脑科技有限公司，西北工业大学，西北农林科技大学，海南大学，重庆大学，中山大学附属第七医院(深圳)，华中科技大学，陕西省人民医院，汕头大学医学院第一附属医院，西安欧亚学院，西北大学，澳门大学，西那瓦国际大学(泰国)，深圳市康宁医院，深圳大学总医院，西安交通大学第二附属医院，西安理工大学，上海信昊信息科技有限公司，上海工程技术大学，广州中医药大学。
