标准号：T/CIE 152-2022
标准名称：微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序
英文名称：Test method and procedure for identification of physical characteristics of fake and counterfeit microelectronics devices
发布日期：2022-12-31
实施日期：2023-01-31
本文件规定了微电子器件假冒翻新物理特征识别方法与程序，包括外部特征分析、内部特征分析以及内部微观特征分析。 本文件适用于塑封及气密封装的微电子器件。
起草人：周帅、马凌志、邱宝军、罗宏伟、王小强、王斌、罗捷、罗军、林晓玲、武慧薇、崔华楠、马凯学、吴裕功、蔡念、常胜、温长清
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所、中国空间技术研究院、天津大学、武汉大学、广东工业大学、深圳市紫光同创电子有限公司
发布部门：中国电子学会
