T/ZOIA 3024-2025 CMOS 影像传感器晶圆级多颗芯片并行测试规程

标准名称：CMOS 影像传感器晶圆级多颗芯片并行测试规程

标准编号：T/ZOIA 3024—2025

国际标准分类号：31电子学 31.260光电子学、激光设备

国民经济分类：C 制造业 C39 计算机、通信和其他电子设备制造业 C397 电子器件制造 C3979 其他电子器件制造

发布日期：2025-10-27

实施日期：2025-10-27

明确晶圆级裸芯片的结构特点和选用CP测试，晶圆级封装后的芯片的结构特点和选用FT测试。