SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法

SJ 21343-2018标准基本信息

标准名称：微波元器件低温环境下S参数测试方法

标准号：SJ 21343-2018

英文名称：Measuring methods for microwave components and devices's scattering parameter at cryogenic temperature

发布部门：科技工业局

发布日期：2018-01-18

实施日期：2018-05-01

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