JJF 1682-2017标准基本信息
标准名称：光栅式测微仪校准规范
标准号：JJF 1682-2017
英文名称：Calibration Specification for Grating Micrometers
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2017-11-20
实施日期：2018-05-20
标准状态：现行
替代标准：JJG 989-2004
文件格式：PDF
起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院
起草人员：曹学东、匡龙、冉庆
本规范适用于0.1 μm级行程为0～10 mm、0.2 μm级行程为0～25 mm、0.5 μm级行程为0～50 mm、1 μm级～10 μm级行程为0～100 mm的光栅式测微仪校准。
JJF 1682-2017预览图：
