IEC63068-3:2020的适用范围是关于半导体器件和电子设备在受到电离辐射（如太空环境中的辐射）时的测试和评估方法。该标准主要针对用于太空应用的电子元器件，规定了辐射硬度保证（RHA）的相关要求和程序，确保这些器件在辐射环境下的可靠性和性能。简单来说，它适用于评估电子元器件在太空或其他高辐射环境中的抗辐射能力，帮助制造商和用户选择合适的器件，并确保其符合辐射环境下的工作要求。
标准号：IEC 63068-3:2020
发布日期：2020-07-13
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
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