标准号：IEC 63229:2021
发布日期：2021-04-07
Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
半导体器件 - 碳化硅衬底上氮化镓外延膜的缺陷分类
IEC63229:2021的适用范围是关于直流电表（直接接入式静止式直流电能表）的性能要求和测试方法。该标准适用于测量直流电能消耗或发电的仪表，主要针对额定电压不超过1500VDC的直流电能表。标准规定了电表的准确度、环境条件、机械和电气要求等，适用于住宅、商业和工业用途的直流电能计量。
IEC 63229:2021