标准号：IEC 60749-13:2018
发布日期：2018-02-15
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾试验
IEC60749-13:2018的适用范围是关于半导体器件的机械和气候试验方法。该标准具体规定了半导体器件在机械冲击试验中的测试条件和程序，用于评估器件在运输或使用过程中可能遇到的机械冲击条件下的性能和可靠性。该标准适用于分立半导体器件和集成电路。
IEC 60749-13:2018