标准号：IEC 60749-28:2022
发布日期：2022-03-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level
半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第28部分：静电放电(ESD)敏感度测试 - 充电器件模型(CDM) - 器件级
IEC60749-28:2022的适用范围是关于半导体器件机械和环境试验的标准。该标准主要规定了半导体器件在机械冲击和振动条件下的测试方法，用于评估器件在这些环境应力下的可靠性和耐久性。适用于各种半导体器件，包括分立器件和集成电路。
IEC 60749-28:2022