IEC 60749-26:2018

标准号：IEC 60749-26:2018

发布日期：2018-01-15

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）

IEC60749-26:2018标准的适用范围主要涉及半导体器件的机械和气候试验方法。该标准具体规定了半导体器件在稳态湿热环境下的可靠性测试要求，用于评估器件在高湿高温条件下的耐久性和性能稳定性。它适用于各类半导体器件的环境适应性测试，是半导体工业中常用的可靠性评估标准之一。