标准号：IEC 60749-9:2017
发布日期：2017-03-03
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性
IEC60749-9:2017的适用范围是关于半导体器件的机械和气候试验方法。该标准具体规定了半导体器件在机械冲击和振动环境下的试验要求，用于评估器件在运输、安装和使用过程中可能遇到的机械应力条件下的可靠性和耐久性。该标准适用于分立半导体器件和集成电路。
IEC 60749-9:2017