标准号：IEC TS 63342:2022
发布日期：2022-07-20
C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection
C-Si光伏（PV）组件 - 光照和高温诱导衰减（LETID）测试 - 检测
IECTS63342:2022的适用范围主要涉及光伏系统中直流电弧故障检测和保护的测试方法。该技术规范为光伏系统直流侧电弧故障的检测、定位和防护提供了测试要求和指南，适用于光伏发电系统的设计、安装和维护，旨在提高系统的安全性和可靠性。
IEC TS 63342:2022