标准号：IEC 60749-6:2017
发布日期：2017-03-03
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温贮存
IEC60749-6:2017的适用范围主要涉及半导体器件的机械和气候试验方法。该标准具体规定了半导体器件在稳态湿热条件下的耐久性测试方法，用于评估器件在高湿高温环境下的可靠性。它适用于各种半导体器件，包括分立器件和集成电路，目的是验证这些器件在潮湿环境中的性能稳定性。
IEC 60749-6:2017