标准号：IEC 60749-4:2017
发布日期：2017-03-03
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：稳态湿热 高加速应力试验(HAST)
IEC60749-4:2017的适用范围主要涉及半导体器件的环境试验方法。该标准具体规定了半导体器件在湿热环境下的耐久性测试要求，特别是针对非气密性封装的半导体器件。它适用于评估这些器件在高湿度和温度条件下的性能和可靠性，确保它们在实际应用中的稳定性和耐久性。
IEC 60749-4:2017