标准号：IEC 62830-1:2017
发布日期：2017-03-03
Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 1: Vibration based piezoelectric energy harvesting
半导体器件 - 用于能量收集和发电的半导体器件 - 第1部分：基于振动的压电能量收集
IEC62830-1:2017的适用范围主要涉及半导体器件中热电材料的性能测试方法。该标准规定了热电材料在半导体器件中应用时的性能评估和测试方法，适用于热电材料和相关器件的研发、生产和质量控制。标准内容涵盖热电材料的基本特性测量，如塞贝克系数、电导率和热导率等参数的测试方法。
IEC 62830-1:2017