标准号：IEC 60749-41:2020
发布日期：2020-07-22
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器器件的标准可靠性试验方法
IEC60749-41:2020的适用范围主要涉及半导体器件的机械和气候试验方法。该标准具体规定了半导体器件在机械冲击条件下的试验要求和方法，用于评估器件在运输或使用过程中可能遇到的机械冲击环境下的可靠性和耐久性。该标准适用于分立半导体器件和集成电路的机械冲击试验。
IEC 60749-41:2020