标准号：IEC 62373-1:2020
发布日期：2020-07-15
Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
半导体器件 - 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的偏置温度稳定性测试 - 第1部分：MOSFET快速BTI测试
IEC62373-1:2020的适用范围主要涉及半导体器件在偏压和温度应力下的可靠性测试。该标准适用于评估半导体器件在高温和电压应力条件下的长期可靠性，特别是针对金属化系统的电迁移和应力迁移现象。它规定了测试方法、条件和评估标准，用于确定器件在高温工作环境下的性能稳定性。该标准适用于集成电路和其他半导体器件的可靠性评估。
IEC 62373-1:2020