标准号:IEC 62779-4:2020
发布日期:2020-02-07
Semiconductor devices - Semiconductor interface for human body communication - Part 4: Capsule endoscope
半导体器件 - 用于人体通信的半导体接口 - 第4部分:胶囊内窥镜
IEC62779-4:2020的适用范围是关于半导体器件中使用的硅晶圆的技术规范。该标准主要规定了硅晶圆在半导体制造过程中的具体要求,包括尺寸、物理特性、化学特性以及测试方法等。它适用于半导体行业中的硅晶圆供应商和制造商,确保硅晶圆的质量和性能符合行业标准。
IEC 62779-4:2020
